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感光材料研究開発評価用レーザー記録装置
レーザーに感度を持つ感光材料の評価用に
レーザーに感度を持つ感光材料の評価用に製作した装置です。

レーザー走査による感光材料への書き込み実験及び評価は、従来は製品化された大型の機械を使ってしか出来ませんでした。
ここで提案する装置を使えば、低コストで自由度の高い書き込み実験が可能になります。画像データはビットマップ形式を用い、パソコンから入力可能で2,540dpi時 走査幅80mmを実現します。

小型、微小なレーザースポットで高速走査可能な装置です。さらに評価後は、この走査ユニットを多数個つなぐことにより広幅の感光体をも走査することが可能になりますので、製品化を視野に入れた評価が可能となります。
装置の主な特徴
1:レーザー光源の選択が可能

半導体レーザーは光走査ユニット内へ組込を行い、標準品として650nmを用意している他に、405nm、635nm、780nm、830nm等が選択可能です。
YAGレーザーにも取付け可能で、532nm、488nmなどから選択可能です。

2:複数のユニットを連結することで広幅の走査が可能

レーザー走査幅は1ユニット80mmですが、2セット連結することで160mm幅の走査が可能です。ユニット間のつなぎ目は、当社独自のレーザー走査制御技術により最小になるように制御し、あたかも1台の走査装置を使っているような状態となります。
この技術により、感光材料の評価装置と同じ性能を持つ大サイズのレーザー描画装置をすばやく製作することが可能です。この装置の場合、出力スピードは従来品の10倍以上となる可能性があります。

3:微小なレーザースポット径

結像点では微小なレーザースポット径で感光材料を露光することができます。例として650nmの波長の半導体レーザーでφ12±6μm(1/e^2)となります。

4:多様な仕様選択が可能

仕様で選択できる個所は、
  fθレンズの焦点距離スポットサイズ / テレセントリック性など
  レーザーの波長 / レーザーの個数
  ポリゴンミラーの回転速度 / 走査ユニットの数
  結像面の形状(平面がドラム) / 感光材料の取付方法  などです。


▲システムの構成

主要仕様

走査方式 ポリゴンミラーとfθレンズによるレーザー走査
解像度 2,540dpi
プロセススピード 26.27mm/sec
レーザー光源 半導体レーザー波長405,635,650,830,780nm
YAGレーザー波長355,488,532nm
結像面スポットサイズ φ12±6μm(650nm使用時)
1ユニット走査幅 80mm
マルチポリゴン化した時の走査幅 80×連結ユニット数
主走査方向位置制御 専用電子制御回路
副走査方向位置制御 リニアモータステージ(P=0.1μm)
またはボールネジステージ(P=1μm)

※製品に関するご注文、お見積もり、お問い合わせは下記のページをご利用下さい。
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pdf カタログダウンロード「感光材料研究開発評価用レーザー記録装置」
ファイルサイズ:256KB 更新日:2002年11月4日
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